MCU測(cè)試系統(tǒng)|MCU架構(gòu)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)|MCU電子測(cè)試|電路板MCU測(cè)試|MCU測(cè)試程序|MCU測(cè)試設(shè)備
在電子生產(chǎn)廠商在生產(chǎn)測(cè)試過程中，需為保證產(chǎn)品質(zhì)量。對(duì)每一塊出場(chǎng)的產(chǎn)品都進(jìn)行嚴(yán)格的檢測(cè)，但是某些的電路模塊只需要如幾個(gè)電壓參數(shù)，幾個(gè)電流參數(shù)，IIC通信等等。如果使用基于PC機(jī)運(yùn)行的測(cè)試系統(tǒng)不免顯得明珠彈雀。
基于以上原因價(jià)格低廉功能不復(fù)雜的單片機(jī)測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)運(yùn)而生，可快速實(shí)現(xiàn)電子電路板自動(dòng)化測(cè)試，安裝好待測(cè)產(chǎn)品以后，由個(gè)人按下幾個(gè)按鍵就可以知道產(chǎn)品的好壞。單片機(jī)測(cè)試系統(tǒng)屬于非標(biāo)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)，我們可以根據(jù)電子產(chǎn)品的測(cè)試規(guī)格設(shè)計(jì)。
單片機(jī)架構(gòu)功能測(cè)試儀是以單片機(jī)為核心，控制開關(guān)矩陣，支持ADC采樣，并實(shí)現(xiàn)部分DAQ功能，以及與待測(cè)板上的元件進(jìn)行通信測(cè)試如IIC,SPI,USART,CAN BUS等等。 |
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