型號(hào)：
IDP-7300
測(cè)試對(duì)像：
粉末、固體、液體
元素分析范圍：
鈉（Na）－鈾（U）
同時(shí)***多可測(cè)元素：
36種
含量分析范圍：
1ppm～99.99%
工作穩(wěn)定性：
總熒光強(qiáng)度為0.1％
測(cè)試時(shí)間：
60～200秒
探測(cè)器分辨率：
127eV±5
多道分析器：
4096道
進(jìn)口高端DSP數(shù)字信號(hào)處理芯片
64位處理
X射線(xiàn)光管：
功率50W，靶材可選Ag、Rh、W、Mo
高壓電源：
電壓范圍0~50KV，穩(wěn)定度每小時(shí)小于0.05%
***低檢出限：
Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm,Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm,Cl≤5ppm
探測(cè)系統(tǒng)：
全自動(dòng)對(duì)點(diǎn)探測(cè)系統(tǒng)鼠標(biāo)點(diǎn)擊,自動(dòng)對(duì)點(diǎn)
升降軟件系統(tǒng)：
電控全自動(dòng)機(jī)蓋升降軟件獨(dú)立控制
外型尺寸：
720mm×560mm×450mm(不包括支腳)
測(cè)量倉(cāng)：
400mm×280mm×100mm
重量：
70Kg
鍍層技術(shù)參數(shù)：
可測(cè)鍍層數(shù)：
***多可達(dá)5層
鍍層種類(lèi)：
單金屬鍍層、合金鍍層
鍍層識(shí)別精度：
分析檢出限可達(dá)2ppm，***薄可測(cè)試0.005μm。
厚度測(cè)試范圍：
輕金屬（如：Ti、Cr等）0.01～50um
中金屬（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um
重金屬（如：Pt、Au、Pb等）0.005～15um
標(biāo)準(zhǔn)配置
配置
數(shù)量
單位
儀器主機(jī)部分主要配置
1
套
1. SDD硅漂移探測(cè)器(進(jìn)口) AMPTEK
1
套
2.低功率X光管
1
個(gè)
3. 高壓電源
1
個(gè)
4. 2048道數(shù)字多道分析器
1
套
5. 高精密CCD
1
個(gè)
6. 濾光片組
5
組
7. 準(zhǔn)直器：8種準(zhǔn)直器自動(dòng)切換
6
個(gè)
儀器外圍配置
計(jì)算機(jī)：
聯(lián)想商務(wù)一體機(jī)
1
套
2. HP彩色噴墨打印機(jī)
1
臺(tái)
3. 銀校正片
1
片
4. 塑料標(biāo)準(zhǔn)樣品: EC681K
1
袋
5. 樣品杯、麥拉膜
若干
軟件配置（選配）
RoHS/無(wú)鹵檢測(cè)
1
套
優(yōu)點(diǎn)：
1、可測(cè)ROHS及金屬鍍層，ROHS/無(wú)鹵元素分析可以一次性測(cè)試完成，無(wú)需分開(kāi)測(cè)試。
2、核心配件均采用進(jìn)口件
3、儀器測(cè)試過(guò)程中無(wú)意開(kāi)蓋，儀器裝有開(kāi)蓋切斷開(kāi)關(guān)，可預(yù)防輻身安全。
4、每年進(jìn)行儀器免費(fèi)檢測(cè)調(diào)校
5、X光管設(shè)計(jì)使用壽命為2萬(wàn)小時(shí).德譜獨(dú)有的延長(zhǎng)光管使用壽命的技術(shù)： (1)、光 |
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