異物分析主要涉及三個方面，一是異物的有機(jī)物結(jié)構(gòu)分析，主要用紅外FTIR分析；二是異物或材料表面的元素成分分析，主要用電子探針（EPMA）、掃描電鏡能譜儀（SEM-EDX）、多功能光電子能譜儀（XPS）、能量色散型X 射線熒光光譜儀（EDX）等；三是表面觀察，主要用光學(xué)顯微鏡（OM）和電子顯微鏡（比如SEM），為科研及生產(chǎn)中成分鑒定、調(diào)整配方、新產(chǎn)品研發(fā)、改進(jìn)生產(chǎn)工藝提供科學(xué)依據(jù)�！�
異物分析技術(shù)通常應(yīng)用于以下情況：剛剛生產(chǎn)出來的產(chǎn)品有一些黑點(diǎn)等異常缺陷或油污等表面污染，或者在經(jīng)過一段時間的貯存、運(yùn)輸?shù)拳h(huán)節(jié)，突然出現(xiàn)一些微小的斑點(diǎn)、油狀物，粉狀物等異物，此時就急需異物分析的方法可以分析出這些異物屬是什么物質(zhì)，進(jìn)而尋找污染源或者污染環(huán)節(jié)，進(jìn)行排除，改善配方體系，改善產(chǎn)品質(zhì)量。因異物的生成情況多種多樣，很多異物可能對產(chǎn)品有決定性的破壞意義，甚至威脅到生產(chǎn)和人身安全，因此，異物分析主要是為了保障生產(chǎn)穩(wěn)定性而存在。​ |
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